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柴田 猛順; 小倉 浩一
真空, 37(3), p.132 - 134, 1994/00
ネオジムおよびガドリニウムイオン衝撃による銅表面からの二次電子放出係数をレーザーイオン源を用いた新しい方法で衝撃エネルギー100eV~2.6keVの範囲で測定した。ネオジムおよびガドリニウムいずれのイオンについても二次電子放出を起こすのに必要なイオン衝撃エネルギーしきい値は約300eVであった。二次電子放出係数はしきい値以上でイオン衝撃エネルギーの一次関数で2keVで0.8であった。これまでの多くの測定と比較すると本測定結果はイオン衝撃エネルギーのしきい値は小さく、二次電子放出係数は非常に大きい。
岩田 圭弘; 関谷 洋之*; 伊藤 主税
no journal, ,
水チェレンコフ検出器への影響を評価するため、水中のガドリニウムイオン(Gd)発光分光に関する研究を行っている。硝酸イオンによる強いクエンチングが観測された一方で、硫酸イオンによるクエンチングの影響は無視できると考えられる。波長245-255nmの範囲でGdの励起スペクトルを測定し、共鳴波長で発光量が2桁増加した。このGdイオン発光を利用した可搬型Gd濃度モニターの開発を進めている。
岩田 圭弘; 関谷 洋之*; 伊藤 主税
no journal, ,
水チェレンコフ検出器への影響を評価するため、レーザー誘起発光分光を用いて水溶液中ガドリニウムイオン(Gd)の発光特性を調べている。強いクエンチングを示す硝酸イオンとは異なり、硫酸イオンによるクエンチングの影響は無視できると考えられる。このイオン発光を利用した可搬型モニターの開発を進めており、特徴としてサンプリングによるコンタミの影響なくリアルタイムにGd濃度及び発光寿命を測定できることが挙げられる。